| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,制藥/生物制藥,綜合 |
SURTRONIC3+僅手掌大小，可攜帶到任何需要測量表面粗糙度的地方。設計探頭支架可輕易使探頭和被測工件表面穩定接觸。內置電池驅動，在操作過程中微型電源。測量通過按鍵控制，采用菜單選擇方式，簡單易行。測量結果可輸出打印，或與DPM數據處理器連接。測量值在行程結束后2秒鐘自動顯示。可選擇多種探頭和附件以滿足各種形狀工件的測量。
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC3+技術參數
測量范圍：±150um
分辨率：10.0nm
*大行程長度：25.4mm
測量參數：Ra、Rq、Rzdin、Ry、Sm、Tp
測量精度：2%+LSD祄
輸出：打印機，可打印測量條件、測量結果和圖形
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC3+探頭
標準探頭-- 用于一般測量，測尖半徑5um
小孔探頭-- 用于小孔槽和狹小平面
小槽探頭-- 測量深大5.5mm的O型環槽和狹槽
溝槽探頭-- 測量深大5.7mm和25mm的溝槽底部或臺階底部
直角探頭-- 在與行程方向成直角的方向上測量
側面導塊探頭-- 用于測量例如齒面等曲面
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蘇公網安備32021402002647
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