費舍爾涂層測厚儀Deltascope FMP30

 費舍爾涂層測厚儀Deltascope FMP30

費舍爾涂層測厚儀Deltascope FMP30

DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀適合于需要一款獨立的儀器帶全部測量數(shù)據(jù)存儲，輸出和打印功能的使用者。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀能存儲多達100個應(yīng)用程式中1,000個數(shù)據(jù)組中的10,000個測量數(shù)據(jù)。除了一些常用的統(tǒng)計參數(shù)以外，DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀還具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標的功能。另外，每一個測量組都帶日期和時間顯示和存儲。
DELTASCOPE FMP30涂層測厚儀配備有一個的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，應(yīng)用程式號，組號，統(tǒng)計數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。

德國Fischer ISOSCOPE FMP30膜厚儀具有打印柱狀圖，正態(tài)分布圖表，以及Cp和 Cpk指標的功能。
自動的求平均功能降低了測量數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的表面粗糙度影響。探頭自動識別。
應(yīng)用程式特定的校準參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。

FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。 XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。